PHL-2型精密d33測量儀
關(guān)鍵詞:壓電,陶瓷材料,高分子,d33/d15

一、產(chǎn)品介紹：

PHL-2型精密d33測量儀是為測量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計的專用儀器，它可用來測量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷，小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。此外，也可測量任意取向壓電單晶以及某些壓電器件的等效壓電d’33常數(shù)，儀器測量范圍寬，分辨率細，可靠性高，操作簡單，對試樣大小及形狀無特殊要求，圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長條、柱形及半球殼等均可測量，測量結(jié)果和極性在三位半數(shù)字面板表上直接顯示。

二、主要應(yīng)用領(lǐng)域：無損檢測超聲檢測，醫(yī)療超聲檢測，航空航天，石油天然器，汽車物聯(lián)網(wǎng)，海jun，工業(yè)，消費者程序等。

三、參考標準:
GB3389.4-82《壓電陶瓷材料性能測試方法 縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33的靜態(tài)測試》

GB/T3389.5-1995《壓電陶瓷材料性能測試方法 圓片厚度伸縮振動模式》

GB000?Tj1.1/T3389.4-1982《壓電陶瓷材料性能測試方法 柱體縱向長度伸縮振動模式》

GB/T 3389.7-1986《壓電陶瓷材料性能測試方法 強場介電性能的測試》

GB/T3389.8-1986《壓電陶瓷材料性能測試方法 熱釋電系數(shù)的測試》
四、產(chǎn)品主要功能：

﹡測量塊體壓電材料的d33常數(shù)

﹡測量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷

﹡測量小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料  

﹡測量任意取向壓電單晶以及某些壓電器件的等效壓電d’33常數(shù)

﹡測量薄膜材料即PVDF等薄膜材料d33常數(shù)

五、主要技術(shù)指標

d33測量范圍：

×1擋：10到2000pC/N，

×0.1擋： 1到200pC/N

可以配套PZT-JH10/4/8/12型壓電極化裝置使用

可以配套ZJ-D33-YP15壓電壓片機使用

可以配D31/D15夾具,進行D31/D15測試
誤差：×1擋：±2%±1個數(shù)字，當d33在100到2000pC/N；
            ±5%±1個數(shù)字，當d33在10到200pC/N；
    ×0.1擋：±2%±1個數(shù)字，(當d33在10到200pC/N)
             ±5%±1個數(shù)字，當d33在10到20pC/N。

計量標定標準樣尺寸：18mm*0.8mm，老化時間：2-3年（評判壓電測試儀準確性能的重要依據(jù)之一）

提供壓電薄膜標準片：20*20MM

電壓保護：du有的放電保護功能
分辨率：×1擋：1 pC/N；×0.1擋：0.1 pC/N。
尺寸：施力裝置：Φ110×140mm；儀器本體：240×200×80mm。
重量：施力裝置：約4公斤；    
儀器本體：2公斤。
電源：220伏，50赫，20瓦。