防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測【接觸檢查功能】通過測量端子間的電容(雜散電容、被測物的電容),能判斷是否正確連接檢測對象。
防止將不合格品誤判為合格品:?測試中測試線脫落的情況?測試部位間電阻增加的情況。例:測試線的老化、治具或高壓繼電器的老化等
可以輕松使用?利用兩端子可以實(shí)現(xiàn)簡單的接線
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直流耐壓絕緣電阻測試儀ST5680電池的安全測試提供更優(yōu)化的檢測方案,通過波形分析提升電池的檢測品質(zhì)
概要:● 準(zhǔn)確檢查絕緣性能,驗(yàn)證電池和電機(jī)質(zhì)量● 通過波形和數(shù)值顯示有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序、對收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析、宣傳檢查的可靠性● 防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出● 防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測● 支持廣泛的國際標(biāo)準(zhǔn)。搭載BDV(絕緣擊穿電壓)測量功能。
專用于直流耐壓測試的高配置機(jī)型這是提供更優(yōu)化的檢測品質(zhì)的直流耐壓絕緣電阻測試儀ST5680的介紹。其性能可以支持各個(gè)國際標(biāo)準(zhǔn)的測試條件,應(yīng)對所有的直流耐壓測試。
使用波形和數(shù)值驗(yàn)證絕緣性能【波形顯示功能】ST5680是能夠基于各種安全標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行直流耐壓測試和絕緣電阻測試的測試儀。不僅可以進(jìn)行PASS/FAIL的合格與否判定,也可以顯示、記錄測試時(shí)的輸出電壓波形和泄漏電流波形。將測試可視化分析,有助于檢查的溯源。
輸出電壓和泄漏電流以波形顯示可以通過波形確認(rèn)測試時(shí)輸出電壓或泄漏電流的動(dòng)向。在確認(rèn)波形的同時(shí),還可按時(shí)間順序確認(rèn)電壓值、泄漏電流值、電阻值。無需使用電腦即可進(jìn)行波形放大顯示等操作,在現(xiàn)場就能進(jìn)行詳細(xì)的分析。
波形顯示的優(yōu)點(diǎn)
有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序。通過分析檢查時(shí)的波形,可以推斷出生產(chǎn)工序中的不良因素。通過查明不良因素,優(yōu)化生產(chǎn)工序,從而能夠提高生產(chǎn)效率。有助于對收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析。可以把收回的不合格品與當(dāng)初出廠檢測時(shí)的波形做比對。通過優(yōu)化合格品的判定標(biāo)準(zhǔn),進(jìn)一步提高生產(chǎn)質(zhì)量。有助于宣傳檢查的可靠性。波形的記錄管理有利于檢查的可溯源性,構(gòu)筑更高品質(zhì)的檢查體系,可以提升客戶的信任。
防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出[【電弧放電檢測功能】
可以檢測因?yàn)楹附用袒蚍蹓m異物等原因發(fā)生的電弧放電。將引起輕微絕緣不良的產(chǎn)品判斷為微小故障品,可以防止出廠后因發(fā)熱原因引起的火災(zāi)事故或故障等風(fēng)險(xiǎn)。
主要功能 | 直流耐壓測試、絕緣電阻測試、絕緣擊穿電壓測試、波形顯示功能、ARC放電檢測功能、接觸檢查功能 (詳情請參照“各測試·功能"表) |
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功能一覽 | 聯(lián)鎖、GFI、自動(dòng)放電、消除偏移、測試中改變設(shè)定電壓、瞬時(shí)輸出、命令監(jiān)控、I/O HANDLER、按鍵鎖定、自檢、校準(zhǔn)期限檢測、EXT SW(遠(yuǎn)程控制) |
使用溫濕度范圍 | 0°C~40°C,80% RH或以下(無結(jié)露) |
適合標(biāo)準(zhǔn) | 安全性:IEC 61010 EMC:IEC 61326 |
電源電壓 | AC 100 V ~ 240 V |
功耗 | 約180 VA※ ※ 電源條件為電源電壓220 V、電源頻率 50/60 Hz、測試模式直流耐壓測試、測試電壓2.5 kV、負(fù)載電流5 mA負(fù)載電阻500 kΩ)的情況下。 |
最大額定功率 | 800 VA |
接口 | 通訊:USB,LAN,EXT. I/O 選件:RS-232C(Z3001),GP-IB(Z3000) 存儲(chǔ):U盤 |
尺寸·重量 | 305(W)×142(H)×430(D)mm(不含突起物) |
附件 | 電源線,CD-ROM(PDF:使用說明書,通訊使用說明書),EXT.I/O用公頭連接器,EXT.I/O用連接器蓋EXT.I/O用聯(lián)鎖解除治具,啟動(dòng)指南 |
直流耐壓測試 | 輸出電壓:DC 0.010 kV ~ 8.000 kV(1 V分辨率) 負(fù)載變動(dòng):± 1% 以下 輸出設(shè)置精度:±(1.2% of setting + 20 V) 輸出電流/截止電流:100 mA max 電流精度:3.00 mA <:±(1.5% rdg.+2 μA)≤ 3.00 mA:±1.5% rdg. 最小分辨率:0.001 μA 測試時(shí)間:0.1 s ~ 999 s,Continue(Timer OFF) 電壓上升/下降時(shí)間:0.1 s ~ 300 s / 0.1 s ~ 300 s,OFF 短路電流200 mA 以下 測試模式W→IR,IR→W,程序測試 |
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絕緣電阻測試 | 輸出電壓:DC 10 V ~ 2000 V(1 V分辨率) 輸出設(shè)置精度:±(1.2% of setting + 2 V) 電阻值顯示范圍:10.00 kΩ ~ 200.0 GΩ(0.01 kΩ分辨率) 精度保證范圍:10.00 kΩ ~ 99.99 GΩ 電阻精度:±(1.5% rdg. + 3 dgt.)*詳情參考下部表格 測試時(shí)間:0.1 s ~ 999 s,Continue(Timer OFF) 電壓上升/下降時(shí)間:0.1 s ~ 300 s / 0.1 s ~ 300 s,OFF |
絕緣擊穿電壓測試 | 測試方法:連續(xù)升壓測試,逐級升壓測試 測量內(nèi)容:絕緣擊穿電壓(kV),絕緣擊穿的強(qiáng)度(kV/mm) 設(shè)定內(nèi)容:初始電壓,結(jié)束電壓,升壓速度,ARC檢測,電極間距離,電流上限值 |
波形顯示功能 | 波形顯示內(nèi)容:電壓,電流,絕緣電阻 采樣速度:500 kS/s 分辨率:256 K words |
ARC放電檢測功能 | 檢測方式:監(jiān)視試驗(yàn)測試電壓的變動(dòng) 設(shè)定內(nèi)容:測試電壓變動(dòng)率1%~50% |
存儲(chǔ)功能 | ·波形·圖形 ·面板保存功能 ·數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能 |
判定功能(判定輸出) | 判定為PASS,判定為FAIL(UPPER FAIL,LOWER FAIL) |
10 nA ≦ I ≦ 3 μA | 100 MΩ ~ 999.9 MΩ 1.00 GΩ ~ 99.99 GΩ | ±(20% rdg.) *2, *3, *4 |
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100 nA ≦ I ≦ 30 μA | 10.00 MΩ ~ 99.99 MΩ 100.0 MΩ ~ 999.9 MΩ | ±(5% rdg.) *2, *3, *4 |
1 μA ≦ I ≦ 300 μA | 1.000 MΩ ~ 9.999 MΩ 10.00 MΩ ~ 99.99 MΩ | ±(2% rdg. + 5 dgt.) *2, *3, *4 |
10 μA ≦ I ≦ 3 mA | 100.0 kΩ ~ 999.9 kΩ 1.000 MΩ ~ 9.999 MΩ | ±(1.5% rdg. +3 dgt.) *2, *3, *4 |
100 μA ≦ I ≦ 30 mA | 10.00 kΩ ~ 99.99 kΩ 100.0 kΩ ~ 999.9 kΩ | ±(1.5% rdg. +3 dgt.) *2, *3, *4 |
1 mA ≦ I ≦ 100 mA | 10.00 kΩ ~ 99.99 kΩ | 320W×155H×480D mm,18kg |
注記 | ※1:在最大額定500 VA范圍內(nèi) ※2:當(dāng)測試電壓為10 V~99 V時(shí),測量精度加算±10% ※3:當(dāng)測試電壓為100 V~999 V時(shí),測量精度加算±5% ※4:當(dāng)測試電壓為1000 V~2000 V時(shí),測量精度加算±2% |
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