測(cè)試模式

IR

IR

輸出電壓

（DC）

范圍

0.100kV-5.000kV

精度

±(1%+0.2%滿量程)

分辨率

1V

最大上限設(shè)定值

50000MΩ

最大下限設(shè)定值

49999MΩ

最小下限設(shè)定值

5MΩ

電壓上升時(shí)間

     0.3s～999.9s  0=電壓上升時(shí)間關(guān)

測(cè)試時(shí)間

     0.3s～999.9s  0=連續(xù)測(cè)試

間隔時(shí)間

 0.0s～999.9s  0=間隔時(shí)間關(guān)

自動(dòng)切換檔位

可設(shè)置為開、關(guān)

放電時(shí)間

≤200ms

電阻表

測(cè)量范圍

5MΩ～50000MΩ

分辨率

  5MΩ～9.999MΩ：0.001MΩ   ，10MΩ～99.99MΩ：0.01MΩ，

100MΩ～999.9MΩ：0.1MΩ   ，1000MΩ～9999MΩ：1MΩ，

10000MΩ～50000MΩ：10MΩ

誤差范圍

100V<電壓 ≤ 1000V

5MΩ-1000MΩ：±5%    1000MΩ-9999MΩ：±10%

1000V<電壓≤ 5000V

5MΩ-1000MΩ：±5%    1000MΩ-9999MΩ：±10%

10000MΩ～50000MΩ：15%

計(jì)

時(shí)

器

范圍

0～999.9s

分辨率

0.1s

精度

±（0.1%+50ms）